Ausstattung

Solarzellencharakterisierung / Bauelementphysik

• Strom-Spannungs-Analytik unter Standard Testbedingungen (STC-IV)
• Strom-Spannungs-Analytik bei Variation der Temperatur (T=100-350K) und Bestrahlungsstärke (P_L=0….1200 W/m²) (IVT)
• Externe und interne Quanteneffizienz (EQE/ IQE)
• Raumladungszonenanalytik (CV, DLCP)
• Klimakammer für beschleunigte Alterungstests (Damp-Heat) mit in-situ-Analytik und Solarsimulator für 600x600 mm²

Ladungstransport

• Elektrische Störstellenspektroskopie (TAS, DLTS)
• Optische Störstellenspektroskopie (Tieftemperatur PL) *
• Hall-Beweglichkeit *

Schichtanalytik

• Infrarot-Lock-In-Thermografie (I-LIT, D-LIT)
• Zeitaufgelöste Photolumineszenz (TR-PL)
• Röntgendiffraktometrie mit Eulerwiege (HTXRD)
• Rastersondenmikroskopie (AFM, KPFM, STM) 
• Elektronenmikroskopie (FIB-SEM, EDX, STEM-EDX *)
• Spektral-winkelabhängige Ellipsometrie (VASE)

Probenpräparation

• Vakuum-Beschichtungsanlage zur Herstellung von Chalkopyrit und Kesterit-Dünnschichten und kompletter Solarzellen
  
• Nasschemische Abscheidung von CdS und Zn(O,S) *

*) wird in Kürze beschafft bzw. befindet sich im Aufbau